低溫撓卷試驗裝置
導體斷面積100mm2以下之試料在本機內(nèi)冷卻1小時后，立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。
型號：HK-DWZZ-01
時間：2024-11-13
訪問量：5972
特色
參數(shù)
配件
一，低溫撓卷試驗裝置標準：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二，說明：
導體斷面積100mm2以下之試料在本機內(nèi)冷卻1小時后，立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。
三，技術參數(shù)：
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溫度 Temp. |
冷卻方式 Cooling method |
降溫速度 Cooling speed |
精度 Accuracy |
材質(zhì) Material |
圓桿 Rod |
內(nèi)箱 Test chamber |
線套 |
體積 Dimension (W×D×H) |
重量 Weight |
電源 Power |
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-40～+130℃ |
氣冷式 Air Frozen |
常溫 Room temp. ～-40℃, 60min |
±2℃ |
內(nèi)外箱， SUS304# |
Φ4.0～37.5mm，共12支 |
45×50×50cm |
Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 |
100×80×135cm |
262kg |
1∮ AC 220V 30A |
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